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技術發(fā)展迅速 精密測量發(fā)展方向透視

時間:2017-12-22 作者:互聯(lián)網(wǎng)分享 閱讀:4652

1、測量精度由微米級向納米級發(fā)展,測量分辨力進一步提高;

2、由點測量向面測量過渡(即由長度的精密測量擴展至形狀的精密測量),提高整體測量精度;

3、隨著圖像處理等新技術的應用,遙感技術在精密測量工程中將得到推廣和普及;

4、隨著標準化體制的確立和測量不確定度的數(shù)值化,將有效提高測量的可靠性。

總之,測量技術必須實現(xiàn)高精度化,同時也要求實現(xiàn)高速化和高效率化,因此,非接觸測量和高效率測量也必然成為新世紀精密測量技術的重要發(fā)展方向。

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